カメラ付き眼鏡で「日本留学試験」問題隠し撮り、中国籍の社長ら逮捕
毎日新聞 2019/11/8(金) 12:58配信
日本の大学入学を目指す留学生が受験する「日本留学試験」の問題をカメラ付き眼鏡で撮影したとして、外国人向け学習塾「毎刻教育」（東京都新宿区）の教育学部長ら2人が逮捕された事件で、警視庁組織犯罪対策1課は8日、塾を経営する丁斌容疑者（36）＝東京都中野区＝ら中国籍の男女3人を偽計業務妨害容疑で逮捕したと発表した。同課は丁容疑者らが事件を計画し、塾が組織的に問題を入手したとみて調べている。
試験問題は一部を除いて非公表のため、5人は撮影した問題を利用して過去問題集のようなものを作ろうとしていたとみられる。
他に逮捕されたのは、同塾元講師、石鎮瑜（23）＝板橋区＝と同塾講師、蒋奕婷（25）＝新宿区＝の2容疑者。
逮捕容疑は、6月16日に都内の大学で行われた日本留学試験を偽名で受験し、カメラ付き眼鏡で試験問題を撮影するなどし、試験を主催する日本学生支援機構の業務を妨害したとしている。同課によると、いずれも容疑を認め、丁容疑者は「塾生を確保し経営を向上させるためだった」と供述している。
この事件を巡っては10月、教育学部長の鄭鐘輝被告（32）と、塾アルバイトの大学生、張以��被告（23）が同容疑で逮捕、起訴された。【金森崇之】